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Tratado de topografía. Tomo II. Métodos topográficos

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Descripción

Se ocupa de los Métodos Topográficos, tanto en Altimetría como en Planimetría, que conducen a la obtención del apoyo fotogramétrico o levantamiento directo de un plano de cualquier extensión, precisión y escala.


Características

  • ISBN: 9788428323093
  • Páginas: 760
  • Tamaño: 19X26
  • Edición:
  • Idioma: Español
  • Año: 1996

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Contenido Tratado de topografía. Tomo II. Métodos topográficos

Se ocupa de los Métodos Topográficos, tanto en Altimetría como en Planimetría, que conducen a la obtención del apoyo fotogramétrico o levantamiento directo de un plano de cualquier extensión, precisión y escala. Aplicando la Teoría de Errores desarrollada en el Tomo 1, se va formando ordenadamente un cuerpo de doctrina topográfica en las sucesivas cuestiones de observación, cálculo y compensación rigurosa.

INDICE:
- Nivelación
- Métodos topográficos
- Nivelaciones topográficas
- Métodos de poligonación
- Métodos planimétricos. Radiación
- Métodos de triangulación, tilateración y medidas de base
- Triangulación topográfica
- Determinación trigonométrica por puntos complementarios
- Ecuaciones de condición. Hipótesis de partida
- Glosario.

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